昨日13日午後2時過ぎ、新百合ヶ丘北口ロータリーで病院のお迎えバスを待っていました。
もう9月半ばだというのに日差しが強くマクドナルドと八千代銀行？があるビルの日陰にいったら
入り口のあたり一帯にパンくずがまかれていて、はとが何羽もついばんでいました。
汚くて嫌だな～と思っていたら制服を着た60過ぎくらいの女性が掃除を始めました。
その時私は着信チェックをした携帯をバッグにしまいました。
その直後その女性が私に面と向かって「パンを撒くの止めて下さい」って言ったんです。
「は～？」「私は何もしてません！！」
当然講義しました。が、その女性は謝りもせずちりとりでゴミをとって消えてしまいました・・・
なんで～？悔しくていまだに怒りが収まりません。
Change background color of specific rows where value in a cell matches the string “sample”.
<fx:Script>
<![CDATA[
import mx.core.ClassFactory;
import spark.skins.spark.DefaultGridItemRenderer;
private function test_itemRendererFunction(item:Object, column:GridColumn):ClassFactory {
if (item == null) {
return new ClassFactory(DefaultGridItemRenderer);
} else {
// if(item.d1=="sample")
if(item[column.dataField]=="sample") {
return new ClassFactory(GrayGridItemRenderer);
} else {
return new ClassFactory(DefaultGridItemRenderer);
}
}
}
]]>
</fx:Script>
<s:DataGrid>
<s:columns>
<s:ArrayList>
<s:GridColumn dataField="d1" headerText="h1" itemRendererFunction="test_itemRendererFunction"></s:GridColumn>
<s:GridColumn dataField="d2" headerText="h2" itemRendererFunction="test_itemRendererFunction"></s:GridColumn>
<s:GridColumn dataField="d3" headerText="h3" itemRendererFunction="test_itemRendererFunction"></s:GridColumn>
</s:ArrayList>
</s:columns>
</s:DataGrid>
GrayGridItemRenderer.mxml
<?xml version="1.0" encoding="utf-8"?>
<s:GridItemRenderer xmlns:fx="http://ns.adobe.com/mxml/2009"
xmlns:s="library://ns.adobe.com/flex/spark"
xmlns:mx="library://ns.adobe.com/flex/mx" clipAndEnableScrolling="true">
<fx:Script>
<![CDATA[
override protected function updateDisplayList(unscaledWidth:Number, unscaledHeight:Number):void {
super.updateDisplayList(unscaledWidth, unscaledHeight);
if (data && data[column.dataField]!=''){
lblData.text = data[column.dataField];
}
}
]]>
</fx:Script>
<s:Rect top="0" bottom="0" right="0" left="0">
<s:fill>
<s:SolidColor color="#E0E0E0" alpha="0.5"/>
</s:fill>
</s:Rect>
<s:Label id="lblData" top="7" left="7" bottom="5" color="0x000000" alpha="0.5"/>
</s:GridItemRenderer>
高周波測定に関する翻訳で、De-embedding（ディエンベディング）という言葉が出てくる（例えば、物理層テスト・システム・ソフトウェア(PLTS)2016のp9）。
今日のコンピュータ・システムや通信システムには、数Gb/sのデータ・レートのシリアル・バスが使用されるようになり、高速データによる伝送ラインの高周波効果（インピーダンスの不連続部からの反射、周波数依存損失など）を正確に評価して、シグナル・インテグリティを向上する必要がでてきた。このとき、伝送ラインを評価するために、伝送ラインと測定器をインタフェースするコネクタが必要だが、高速デジタル伝送ラインでは、RF/マイクロ波測定器で一般的な同軸インターフェースが使用されないので、非同軸の伝送ラインと同軸伝送ラインを接続するためのフィクスチャ（テスト用治具）を用いる。このフィクスチャによる影響を除去してDUT（ここでは、伝送ライン）のみの特性を抽出するための手法の1つがディエンベディングである。
ディエンベディングの詳細については、以下を参照。