電子回路基板の測定に関する翻訳に、in-circuit test（インサーキット・テスト）という言葉がよく出てくる（例えば、複雑なエレクトロニクス環境におけるインサーキット・テストの今後）。in-circuit test（インサーキット・テスト）は、ICTと略されることがある。

電子機器の内部には、電子回路基板（プリント基板、Printed Circuit Board）があり、コンデンサや抵抗、LSIなどの電子部品が実装されている。インサーキット・テストとは、電子回路基板に電子部品が実装された状態（in-circuit）で、個々の部品の端子にプローブ・ピンを接触させて、電子回路基板内部の個々の部品に信号を印加して測定することにより、部品定数（抵抗、キャパシタンス、インダクタンスの値）の間違いがないか、半田付けのオープンやショートがないか、ICのリード浮きがないか、トランジスタやICの動作不良がないか、などを検査することである。

電子回路基板に電源を供給して、実際に電子回路基板を動作させて、電子回路基板全体としての出力が仕様を満たすかどうかを検査することは、ファンクション・テストと呼ばれる。

プリント基板については、以下を参照

JPCA（一般社団法人日本電子回路工業会） > 電子回路ってなーに？

インサーキット・テストについては、以下を参照

一般社団法人 日本電気計測器工業会 > 事業・活動 > 技術解説 > 電気測定器の技術解説 > 半導体・ＩＣ測定器・ボードテスタ＆試験システム > ボードテスタ