RFID

RF測定に関する翻訳で、RFIDという言葉が出てくる(例えば、ベクトル信号解析ソフトウェア オプションBHC:RFID 変調解析)。

「RFID」は、Radio Frequency Identificationの略で、電波(Radio Frequency)を利用してデータ交信を行って非接触の状態で人や商品の識別(Identification)を行うデバイスである。在庫管理や物流管理の効率化のために利用されることが多く、身近なものでは、Suicaなどの乗車カードがある。

RFIDの測定については、以下を参照。
ネットワーク/インピーダンス・アナライザを用いたRFIDタグ、リーダライタの評価

RFIDの技術的側面については、以下を参照。
RFIDの技術動向

Device Modeling(デバイス・モデリング)

半導体デバイス測定に関する翻訳で、Device Modeling(デバイス・モデリング)という言葉が出てくる(例えば、IC-CAP デバイス・モデリング・ソフトウェア)。

今日のLSIは、動作周波数が高速化し、複雑で大規模なものになっている。このようなLSIを開発するには、長い開発期間と膨大なコストがかかるため、回路シミュレーションが必須となる。回路シミュレーションを行うには、正確な半導体デバイス・モデルが必要で、そのようなデバイス・モデルには多くのパラメータが存在する。実際の半導体デバイスの特性を正確に表すように、これらのパラメータを決定することをデバイス・モデリングという。

デバイス・モデリングについて詳細に解説したWebサイトは少ないが、以下が参考になる。

回路設計用先端MOSFETモデルの進化

De-embedding(ディエンベディング)

高周波測定に関する翻訳で、De-embedding(ディエンベディング)という言葉が出てくる(例えば、Agilent物理層テスト・システム(PLTS)2012のp9)。

今日のコンピュータ・システムや通信システムには、数Gb/sのデータ・レートのシリアル・バスが使用されるようになり、高速データによる伝送ラインの高周波効果(インピーダンスの不連続部からの反射、周波数依存損失など)を正確に評価して、シグナル・インテグリティを向上する必要がでてきた。このとき、伝送ラインを評価するために、伝送ラインと測定器をインタフェースするコネクタが必要だが、高速デジタル伝送ラインでは、RF/マイクロ波測定器で一般的な同軸インターフェースが使用されないので、非同軸の伝送ラインと同軸伝送ラインを接続するためのフィクスチャ(テスト用治具)を用いる。このフィクスチャによる影響を除去してDUT(ここでは、伝送ライン)のみの特性を抽出するための手法の1つがディエンベディングである。

ディエンベディングの詳細については、以下を参照。

ベクトル・ネットワーク・アナライザを使用したSパラメータ・ネットワークのディエンベディングおよびエンベディング

CCDF(相補累積分布関数)

無線通信測定に関する翻訳で、CCDFという言葉が出てくる(例えば、LTEコンポーネントのスティミュラス-レスポンス・テストのp17)。

「CCDF」は、Complementary Cumulative Distribution Function(相補累積分布関数)の略である。CCDF=1-CDF(Cumulative Distribution Function)で定義される。また、CDFは、確率密度関数(Probability Density Function)を下限からxまで積分したものである。確率密度関数と累積分布関数については、大阪府立大学経済学部経済学科鹿野研究室のLectureページの経済統計経済統計講義ノート#06を参照。

CCDF測定は、LTEなどの広帯域デジタル無線伝送において、ピーク信号が送信機のパワー・アンプなどの非線形デバイスに入力されて信号が歪み、伝送品質の低下や隣接チャネルへの干渉を防ぐために、ピーク対アベレージ・パワー比の大きさを調べるのによく使用される。詳細については、LTEコンポーネントのスティミュラス-レスポンス・テストのp17やNTT DoCoMoテクニカル・ジャーナルVol.14 No.4「OFDM伝送におけるピーク低減方式に関する研究」を参照。