JTAG

ロジック・アナライザ測定に関する翻訳に、JTAGという言葉がよく出てくる(例えば、Agilent Technologies B4656A Altera用FPGAダイナミック・プローブのp2)。

JTAGは、シリアル通信を用いてICの内部回路と通信をするための仕組みで、1985年にJoint European Test Action Group(JETAG)によって提案され、1990年にIEEE 1149.1(Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture)として標準化された。

DIP(Dual Inline Package) やQFP(Quad Flat Package) のICでは、パッケージの周囲に端子が出ているので、ロジック・アナライザのプローブを物理的に接触させて信号を読取ることにより、実装検査ができる。しかし、表面実装の高密度化に伴い登場したBGAパッケージのICでは、周囲に端子が出ていない(ICパッケージの裏側に端子がある)ので、プローブを接触させて信号を読取ることができない。そこで、ICの端子内に電子的なプローブ(スキャン・セル)を内蔵し、それをシリアル接続で操作して検査する方法が考えだされた。この検査方式がJTAGであり、ICの端子はICの中と外を分ける境界なので、バウンダリ・スキャン方式とも呼ばれる。

JTAGについては、以下を参照。

アンドールシステムサポート株式会社JTAGテストとは?

特殊電子回路株式会社JTAG技術情報

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