電源に関する翻訳で、noise density（ノイズ密度）という言葉がよく出てくる（例えば、B2961A/B2962A 超低ノイズDCソースを使用したデバイス評価のp2）。

一般に、ノイズは、広い周波数範囲に渡って分布している（ざまざまな周波数成分を持つ）ので、測定されたノイズの大きさは、測定帯域幅によって異なる。したがって、ノイズの大きさ（電力）は、単位周波数当たりの電力（ノイズ電力スペクトル密度、W/Hz）で表される。

しかし、ノイズは、低周波では電圧で測定されることが多いので、電力（W）＝電圧（V）^2/抵抗（Ω）の関係から、ノイズ電力スペクトル密度（W/Hz＝V^2/Hz）の平方根をとって、ノイズの大きさ（電圧）をV/√Hzで表す方がわかりやすい。これをノイズ密度またはノイズ電圧スペクトル密度と呼んでいる。

ロジック・アナライザ測定に関する翻訳に、JTAGという言葉がよく出てくる（例えば、Agilent Technologies B4656A Altera用FPGAダイナミック・プローブのp2）。

JTAGは、シリアル通信を用いてICの内部回路と通信をするための仕組みで、1985年にJoint European Test Action Group（JETAG）によって提案され、1990年にIEEE 1149.1（Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture）として標準化された。

DIP(Dual Inline Package) やQFP(Quad Flat Package) のICでは、パッケージの周囲に端子が出ているので、ロジック・アナライザのプローブを物理的に接触させて信号を読取ることにより、実装検査ができる。しかし、表面実装の高密度化に伴い登場したBGAパッケージのICでは、周囲に端子が出ていない（ICパッケージの裏側に端子がある）ので、プローブを接触させて信号を読取ることができない。そこで、ICの端子内に電子的なプローブ（スキャン・セル）を内蔵し、それをシリアル接続で操作して検査する方法が考えだされた。この検査方式がJTAGであり、ICの端子はICの中と外を分ける境界なので、バウンダリ・スキャン方式とも呼ばれる。

JTAGについては、以下を参照。

アンドールシステムサポート株式会社のJTAGテストとは？

特殊電子回路株式会社のJTAG技術情報