Time Domain Reflectometry(TDR)

計測関係の翻訳に、高速デジタル伝送(PCI Express、シリアルATA、HDMI、USB3.0など)の普及に伴い、TDRという言葉が最近よく出てくる。

理想的なデジタル・パルス波形には、無限に高い高調波成分(高周波成分)が含まれるが(矩形波のフーリエ級数展開、参考:フーリエ級数展開)、周波数が高いほど、インピーダンスの不連続部(コネクタや伝送線路の曲がった部分など)での反射により波形が歪み(参考:FPCの高周波特性の一考察の図1)、誤動作の原因になる。TDRとは、ステップ・ジェネレータとオシロスコープを使用して、高速なパルス・エッジをDUTに入力し、その一部がインピーダンスの不連続部で反射して戻ってくる波形をモニタすることにより、インピーダンスの不連続部の位置と種類(抵抗性、容量性、誘導性)を特定するための手法である。

TDRの詳細については、以下を参照。

タイム・ドメイン・リフレクトメトリの原理
ベクトル・ネットワーク・アナライザとオシロスコープによるTDR測定の相関の検証と性能の比較

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